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Fluke Ti400 热成像仪
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详细的技术指标 |
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温度 |
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温度测量范围（-10°C 以下未校准） |
-20 °C 至 +1200 °C |
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温度测量精度 |
± 2 °C 或 2 % （处于 25 °C 额定温度时，取较大值） |
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屏显发射率校正 |
是（根据数字和表格） |
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屏显反射背景温度补偿 |
是 |
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屏显传输校正 |
是 |
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成像性能 |
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图像捕获频率 |
刷新率：9 Hz 或 60 Hz（取决于型号） |
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探测器类型 |
320 x 240 像素焦平面阵列，非致冷型微测辐射热计 |
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热敏度 (NETD) |
30 °C 目标温度时，≤ 0.05 °C(50 mK) |
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总像素 |
76,800 |
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红外光谱带 |
7.5 μm 至 14 μm（长波） |
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可视（可见光）照相机 |
工业性能，500 万像素 |
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标准红外镜头类型 |
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视场 |
24 ° x 17 ° |